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產品資料

穩(wěn)科3255BQ電感測試儀1MHz LCR

產品型號：1J3255BQ

產品展商：

產品簡介：

電感測試儀1J3255BQ 頻率范圍 20Hz - 1MHz

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電感測試儀相關介紹：

1J3255BL 頻率范圍 20Hz - 200kHz

1J3255B 頻率范圍 20Hz - 500kHz
1J3255BQ 頻率范圍 20Hz - 1MHz

0.1%基本精度（英國標準）
DC Bias(直流偏壓)*高可到125A(Option)

四線式測試，可**測量極低的Rdc、Rs、L和精準Q

可內建1Amp或2Amp DC Bias
多頻率自動測試模式
多點DC Bias掃頻功能
涵蓋各式測量參數：Z(阻抗), L(電感), C(電容), Rac(交流電阻), Phase(相位), Q(品質因素), D(損耗因素), Rdc(直流電阻)
人性化直覺式操作介面,簡單易懂
測試結果列印
可透過IEEE488連線控制

測試夾具選擇

	1J1020		1J1022		1J1011
介電常數測試治具（40MHz）		液體介電常數測試治具（30MHz）		二線制DIP測試治具（120MHz）
	1J1012		1J1024		1J1011W
二線制SMD測試治具（彈片型）（120MHz）		二線制SMD測試治具（探針型）（120MHz）		四線制DIP 測試治具 (120MHz)
	1J1014		1J1015		1J10154
四線制SMD測試治具（120MHz）		二線制DIP高電流測試治具（125A）（3MHz）		四線制DIP高電流測試治具（125A）（3MHz）
	1J1016		1J10164		1J1023
二線制SMD高電流測試治具（125A）（3MHz）		四線制DIP高電流測試治具（125A）（3MHz）		四線制轉二線制高頻轉接頭（120MHz）
	1J1025		1J1032		1J10324
探針式測量治具（120MHz）		二線制SMD底部電極測試夾具		四線制SMD底部電極測試夾具
	1J1026		1J1027		1J1028
二線制DIP高電流測試治具（20A）（120MHz）		二線制DIP高電流測試治具（40A）（120MHz）		二線制DIP高電流測試治具（80A）（120MHz）
	1J10264		1J10284		1J1036
四線制DIP高電流測試治具（20A）（120MHz）		四線制DIP高電流測試治具（60A）（120MHz）		二線制DIP高電流測試治具（250A）
	1J10362		1J1100		1J1031
四線制DIP高電流測試治具（250A）		電容充放電保護單元（3MHz）		高頻80A SMD 二線式底部接觸式轉接座（120MHz）
	1J1037		1J1001		1J1002
偏置電流夾具適配器		四轉一測試夾具（120MHz）		四轉二測試夾具（120MHz）
	1EV1006		1EV1505		1EV1905A
四線式DIP測試治具 (1MHz)		四線式測試夾具 (3MHz)		兩線式探針型高頻測試線 (50MHz)
	1EV1905X		1EVA40100		1EVA40120
兩線式探針型高頻測試線SMD (50MHz)		精密型測試夾具 (3MHz)		SMD鑷子式高精密測試夾具 (3MHz)
	1EVA40125		1EVA40150		1EVA40180
SMD鑷子式高精密測試夾具 (120MHz)		鑷子式高精密測試夾具（尖型） (3MHz)		鑷子式高精密測試夾具（大型） (3MHz)